磁測量方法和渦流測量方法,隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來在微處理器技術(shù)的引入,測厚儀微,聰明、多功能、高精度、可行的方式向前邁進的重要一步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可以達到1%,適用范圍寬,范圍廣泛,操作簡單,價格低廉。是應用*廣泛的工業(yè)和科研儀器。
無損檢測方法既不破壞包層厚度或破壞基材,測試速度,因此,可以在經(jīng)濟上使大量的測試工作。
以下分別介紹幾種常規(guī)厚度的方法。
一、磁吸力原理測厚儀
使用探針和滲透率之間的長久磁鐵鋼鐵吸力的大小和一個明確的比例關(guān)系在兩個之間的距離可以測量覆層的厚度,這個距離是上覆地層的厚度,所以只要涂層的滲透性和襯底之間的區(qū)別是足夠大,可以測量。
鑒于大多數(shù)工業(yè)產(chǎn)品是由鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓、使用*廣泛的磁性測厚儀。測量儀器是磁鋼基本結(jié)構(gòu)、拉簧、規(guī)模和自動停止機制。分析物在磁鋼和吸收之后,逐漸延伸,后面有彈簧張力逐漸增加,磁鋼時刻的強度鋼比吸記錄拉力可以獲得包層厚度的大小。
一般來說,按照不同的模型和不同的范圍和適應情況。
在350年國土**部角范圍內(nèi)可用0 ~ 100(包括米;0 ~ 1000(包括米;0 ~ 5毫米,等包層厚度的精度可以達到超過5%nd可以滿足工業(yè)應用的一般要求。該儀器的特點是操作簡單,堅固耐用,沒有電源和測量校準,前面的價格很低,非常適合車間進行現(xiàn)場質(zhì)量控制。
二、磁感應測厚儀的原理
感應原理是利用鐵磁層后的探針和鐵基材通量大小確定涂層的厚度,涂層厚度、磁通越小。
因為它是電子儀器校準容易,可以多種功能,擴大范圍,提高精度,因為測試條件可以減少很多,所以比磁吸式更廣泛的應用領(lǐng)域。
當軟核心在探測線圈上對象進行測試,測試儀器和自動輸出電流,磁通影響感生電動勢的大小,大小的儀器將信號放大然后指示包層厚度。
早期產(chǎn)品頭指示,準確性和重復性不好,然后開發(fā)了數(shù)字顯示類型、電路設(shè)計是**的。微處理器技術(shù)和電子開關(guān),介紹了近年來,*新的技術(shù),如頻率穩(wěn)定,出現(xiàn)的一些**產(chǎn)品,有了很大的提高,精度達到1?區(qū)分率(包括0.1米,感應的測厚儀測量頭滲透率核心使用低碳鋼,線圈電流頻率不高,為了減少渦流的影響效應,探測器具有溫度補償功能。
儀器已經(jīng)聰明,可以識別不同的測量頭,用不同的軟件和自動改變探針電流和頻率。一個儀器來適應各種測量頭,也可以使用相同的工具。
可以說,適用于工業(yè)生產(chǎn)和科學研究工具已經(jīng)達到了非常實用的階段。使用電磁測厚儀的原理、原則,適用于所有測量,包層滲透率通常需要超過500的基本滲透率。包覆磁性材料,如,要求和滲透率有足夠大的差距基材(如鋼鍍鎳層)。磁性測厚儀的原理可用于**測量的涂漆表面的鋼鐵、陶瓷、搪瓷防護涂料、塑料、橡膠涂料、各種有色金屬,包括鍍鎳鉻、化工石油工業(yè)的各種防腐涂層。
為電影、電容器紙、塑料、聚酯薄膜生產(chǎn)行業(yè),如測量平臺的使用或輥(鋼鐵制造)可以用來實現(xiàn)大面積的測量在辦公室。
三、渦流測厚儀的原理
渦流測厚方法主要用于測量各種非金屬涂層對金屬基板。
用于高頻交流電(ac)探頭線圈產(chǎn)生電磁場,探測金屬導電體,金屬材料的渦流的形成,隨著距離的增加與減少金屬的身體,渦流影響探頭線圈的磁通,因此反饋行動表示,調(diào)查和賤金屬之間的距離的大小是一個數(shù)量,因為非鐵磁金屬基體上的探測器是用來測量涂層厚度,所以我們通常說磁探針的調(diào)查。
非磁性探針通常采用高頻高導磁率材料鐵芯線圈,常用的鉑和鎳合金和其他新材料。
與磁測量原則相比,他們的電氣原理、基本測量頭的主要區(qū)別是不同的,測試電流的頻率大小不同,信號的大小、比例關(guān)系。
在*新的測厚儀,通過不斷改善時測量頭的結(jié)構(gòu)搭配了一個微型計算機技術(shù),通過自動識別不同的探針來調(diào)用不同的控制程序,輸出不同的測試電流和改變尺度轉(zhuǎn)換軟件,*終使兩種不同類型的測量頭與相同的測厚儀,減輕用戶的負擔,基于相同的想法,應該可以選擇10種側(cè)頭的測厚儀大大擴展了厚度范圍(100000倍),測量包括磁性材料表面的磁涂料、導電材料的導電涂料的導電層和絕緣材料,基本上滿足大多數(shù)工業(yè)生產(chǎn)行業(yè)的需求。
采用渦流測厚儀的原理,原則上所有電導體的導電涂層,如航天飛機、汽車、家用電器、表面涂層表面的鋁合金門窗和其他鋁產(chǎn)品、塑料涂層,陽極氧化膜。
一些特殊目的,比如鉆石鍍涂層在金屬和其他不導電層。
包層材料還可以有一定的導電性,校準測量也可以,但需要之間的區(qū)別的導電率的比率至少3 ~ 5倍(銅鍍鉻等)。
校準原則是沒有包層與基材應校準樣品分析物:成分是相同的,相同的厚度(主要是取決于儀器的厚度小于*小值大約0.5毫米以下),曲率半徑相同,如測量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)要求(直徑約20毫米以下),還應當具有相同的區(qū)域進行測試。
含有導電元素,如熔覆涂層的校準樣品也應該被分析物和有相同的導電涂層的性能。
校準樣品后上覆地層的其他測試方法(包括損壞)檢測或校準與標定校準芯片做涂層的厚度,可以根據(jù)該規(guī)范的測厚儀的標定方法。
校準后可以快速、無損檢測的產(chǎn)品正在測試。校準片三乙酸酯是常用的電影或硬紙的酚醛樹脂浸漬。微機厚度一般有多個校準值存儲。不同的位置,產(chǎn)品測試材料的變化,改變頂部可以分別校準測量和存儲。實際使用直接調(diào)用每個校準值,不需要再次設(shè)置。這是所謂的“基準”的速度。大大提高了檢測效率。
在智能儀器測試數(shù)據(jù)通?？梢源鎯Α⒋蛴?、統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析,打印功能可以覆蓋層厚度分布直方圖的清晰。例如設(shè)置的上限和下限也可以更準確的統(tǒng)計數(shù)據(jù),所有點的測量噪聲警告不納入統(tǒng)計計算。