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JD-2003激光測(cè)厚儀，JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)
JD-2003激光測(cè)厚儀，JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)
JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)在工業(yè)生產(chǎn)中的非接觸、在線測(cè)量中，對(duì)于提高產(chǎn)品的質(zhì)量、生產(chǎn)效率及**保障等方面均發(fā)揮著非常重要的作用。JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)可以完成許多用接觸式測(cè)量手段無(wú)法完成的檢測(cè)任務(wù)。經(jīng)過(guò)多年的科技攻關(guān)研發(fā)出各種測(cè)量系統(tǒng)。
JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)在膜厚測(cè)量上的應(yīng)用
JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)：精度高，不受被測(cè)物的材料、質(zhì)地、型狀、反射率的限制。從白色到黑色，從金屬到陶瓷、塑料都可以測(cè)量。
激光測(cè)厚儀，
JD-2003激光測(cè)厚系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍 | <3mm |
分辨率 | 0.001mm |
精度 | ±0.003mm |
光源波長(zhǎng) | 0.65mm |
光針直徑 | ~200mm |
測(cè)量速度（曝光時(shí)間） | 0.0001秒 |
工作溫度 | 0~40℃ |
激光防護(hù)等級(jí) | 3B |
電源電壓 | 220v |
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