CXT2661型四探針方塊電阻測試儀
CXT2661型四探針方塊電阻測試儀同時也是電阻率測試儀、電導率測試儀.本儀器是一款低功耗手持式儀器，適用于片狀或塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻率測試、太陽能等材料的測試，配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方塊電阻，也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻、開關(guān)接觸電阻等。

CXT2661型四探針方塊電阻測試儀適用范圍:
儀器可根據(jù)客戶需要配置不同的測試探頭，測量半導體材料、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽能材料、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻、開關(guān)接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產(chǎn)單位對導體、半導體材料、類半導體材料、器件的導電性能的測試，滿足對材料(棒材、片材等)和導電薄膜方塊電阻測量的需要。

CXT2661型四探針方塊電阻測試儀產(chǎn)品描述:
電阻測試范圍:1mΩ-100KΩ;方阻測試范圍: 1mΩ/□-100KΩ/□; 電阻率測試范圍取決于電阻測試范圍及被測件尺寸;手持大容量電池方便攜帶

CXT2661型四探針方塊電阻測試儀性能特點
?*高電阻精度：0.1 %；電阻*小分辨：1mΩ
?*高方阻精度：5%；電阻*小分辨：1mΩ
?被測件厚度可預設(shè),電阻率測試無需查表
?零底數(shù)設(shè)計，微弱電阻測試無需清零
?多種探頭可選,應對各種特性材料的方阻電阻率測試
?3檔比較功能: 合格/超上限/超下限
?電阻/方阻/電阻率可切換顯示
?符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
?6000mAh大容量電池,持久續(xù)航
?適用于測量半導體、導電薄膜、金屬/納米涂層、太陽能材料、陶瓷等，也可直接測量電阻器